公司公告

智奧普視參加日本ITE (国際画像機器展)攜手前端材料檢測客戶提供智檢方案


智奧普視 參加日本ITE (国際画像機器展)攜手前端材料檢測客戶,針對半導體先進封裝所需絕緣膜、增層膜、MUF(模塑底部填充)與LMC(液態封裝材料)等半導體材料量產時檢測提供更高精度更智能解決方案。


我們的核心優勢
  • 深入產業洞察:我們不僅是技術供應商,更是您的產業夥伴。了解半導體製程的嚴苛要求,確保解決方案精準對焦客戶痛點。
  • 精密光學技術:結合先進的鏡頭與光學元件,確保檢測數據的準確性與可靠性,滿足微米級甚至奈米級的檢測挑戰。
  • 高彈性客製化:針對您獨特的生產流程與需求,提供靈活的客製化服務,將標準產品無縫整合至您的現有產線。
  • 極速服務響應:時間就是成本。我們承諾快速的售前諮詢與售後服務,最大化您的生產效率,減少停機時間。

核心產品與服務
  • 半導體檢測解決方案: 從晶圓到封裝,提供全方位的 AOI 檢測設備與系統。
  • 高性能鏡頭模組: 專為工業檢測設計,確保影像清晰、穩定。
  • 專業客製化服務: 根據客戶特定需求,共同開發專屬檢測方案。